UV-A型365nm和420纳米双探头紫外辐照计采用SMT贴片技术，选用低功耗数字芯片，仪器外壳为流线型设计，探测器经过严格的光谱及角度特性校正，性能稳定，适用性强。适用于光化学、高分子材料老化、紫外光源、以及大规模集成电路光刻等领域的紫外辐照度测量工作。
UV-A型365nm和420纳米双探头紫外辐照计的特点：
光谱及角度特性经严格校正
数字液晶显示，带背光
手动/自动量程切换
数字输出接口（USB,冗余供电）
低电量提醒
自动延时关机
有数字保持
轻触按键操作，蜂鸣提示
的规格参数：
项目 | 参数 |
波长范围λ1，峰值波长λp | （320～400）nm，λP＝365nm |
波长范围λ2，峰值波长λp | （375～475）nm，λP＝420nm |
辐照度测量范围 | (0.1～199.9×103) μW/cm2 |
紫外带外区杂光 | 0.02% |
相对示值误差 | ±8％（相对于NIM标准） |
角度响应特性 | ±5% （α≤10°） |
线性误差 | ±1% |
换档误差 | ±1% |
短期不稳定性 | ±1%（开机30min后） |
零值误差 | 满量程的±1% |
响应时间 | <1秒 |
使用环境 | 温度(0~40)℃；湿度＜85％RH |
尺寸和重量 | 160mm×78mm×43mm；0.2kg |
电源 | 6F22型9V积层电池（非充电电池） |
整机功耗 | ＜0.1VA |
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15901824610 周经理