美国ILT2400辐照计

美国ILT2400辐照计探头专门为提高UV LED曝光机测量系统精确度而设计，在UV固化作用光谱350~400nm区域提供更均匀的响应，辐照度测量范围0.05μW/cm2~800mW/cm2，可添加峰值波长的PIR校准过滤片，带美国NIST可溯源ISO17025认证校准报告。

美国ILT2400辐照计介绍

大多数UV紫外线探头过滤器具有钟形光谱曲线，峰值相当窄。为了提高UV LED测量系统的精确度，美国ILT公司将高度稳定的InGaAsp传感器与平坦的玻璃滤光片和石英漫射片相结合，在用于UV固化的关键区域提供更均匀的响应。ILT2400辐照计+SED005/UVF/A313探头组成的测量系统旨在简化对UV LED曝光机固化的校准测量，专有的传感器/滤波器/光学组件由美国ILT的工程团队设计，可提供350-400 nm波段近乎平坦的响应。这种平坦的*的响应允许测量和比较各种紫外LED波长，而不需要修改读数以适应传感器灵敏度的变化。这个系统也可以用来测量传统的紫外线源。

应用：UV LED固化测量、传统紫外线固化能量辐照度

测量范围： 5e-8至8e-1 W / cm2（0.05μW/cm2 ~ 800mW/cm2）

光谱范围： 275-450nm （在UVLED主要作用波段350-400 nm具有平坦的响应曲线）

尺寸：直径29 x 42mm

订购部件号

ILT2400+SED005/UVF/A313（可选特定峰值波长的PIR校准，250-450nm /每1、2或5 nm的扫描校准也可用）

A313扩散器也可提供1、3、5和7毫米孔径，允许测量更小的区域，例如聚焦的光束，以便于区域测绘，并且还可以测量更高的强度。另有XSD005UVF薄型UV LED固化传感器，内置过滤器和光学元件，不能外部添加过滤片/光学交换元件，它的尺寸更小，为15 mm x 42 mm直径。ILT光学UV LED固化辐照计规格说明书