XSD005UVF 紫外辐照计

XSD005UVF 紫外辐照计探头具有平坦*性的光谱曲线，该系统适用于监测UV LED固化曝光能量强度及时间，在UV固化的关键区域350-410nm波长提供更均匀的响应，以手持式的价格提供研究级的质量。

XSD005UVF 紫外辐照计介绍

大多数UV紫外线探头过滤器具有钟形光谱曲线，峰值相当窄，只有在峰值波长才能精确测量辐照度能量强度。为了提高UV LED测量系统的精确度，美国International Light公司将高度稳定的InGaAsp传感器与平坦的玻璃滤光片和石英漫射片相结合，在UV固化作用光谱关键区域350~400nm提供更均匀的响应。这种平坦的*的响应允许测量和比较各种UVLED波长，而不需要修改读数以适应传感器灵敏度的变化。这个系统也可以用来测量传统的汞灯紫外线源。

美国International Light ILT2400辐照计是目前市场上*的手持式光度计和光电表，支持众多光测量应用，包括光刻胶、UV固化、紫外线杀菌消毒、紫外线辐射、激光功率、led灯照明测试、植物光生物学、*等。ILT2400测光表可自由配置光探测器、输入光学器件、过滤片和校准片以支持各种测量应用，测量速度高达100μs，内置可充电电池持续长达8小时，4.3寸触摸屏显示，可横向和纵向观看，以手持式的价格提供研究级的质量。XSD005UVF探测器是一款薄型传感器，内置过滤器和光学元件，响应波长275-450 nm，在350~410 nm波段具有均匀平坦的光谱曲线，是简洁的UV LED曝光机测量探头，15mm x 42 mm直径，辐照度量程0.05μW/cm2 ~ 800mW/cm2。ILT2400+XSD005UVF测量系统主机和探头均带有NIST可溯源ISO17025认证校准证书。