XIR395 紫外辐照计

XIR395 紫外辐照计及XSD340AT7探头、XIR395校准片用于精确控制395nm波长曝光强度等级和曝光时间，测量速度高达100μs，内置可充电电池持续长达8小时，4.3寸触摸屏显示，可横向和纵向观看，带NIST可溯源ISO17025认证校准证书。

XIR395 紫外辐照计可自由配置光探测器、输入光学器件、过滤片和校准片，用于测量Watts瓦特, Lumens流明, Watt/cm2瓦特/平方厘米, lux勒克斯和foot-candles等光学参数。测量速度高达100μs，内置可充电电池持续长达8小时，4.3寸触摸屏显示，可横向和纵向观看，以手持价格研究质量。

ILT2400+XSD340AT7+XIR395辐照测量系统方案包含ILT2400测光表以及校准于395nm波长的XSD340AT7探头，专门用于精确控制作用波长为395nm曝光机设备UV固化工艺的曝光强度等级和曝光时间，辐照度量程8e-6 ~ 60 W/cm²，仪器及探头均附带NIST可溯源ISO17025认证校准证书。XIR395为IL探头辐照度响应校准选项，校准于395nm中心波长。X Irradiance Response (amps)(cm2)(watt-1)，At Specified Wavelength X ,Within The Bandwidth of An IL detector, Calibration At 395nm。

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