日本理学Rigku XRD

1.   MiniFlex

日本理学Rigku XRD MiniFlex具有600W功率，是其他台式机的两倍;高分辨、高精度、高信噪比;丰富的附件可供选择，满足广泛应用需要。

　　安全设计： 采用联锁装置，在X射线开启状态下无法打开样品室操作窗。在测试中如果指令样品室解锁，则快门关闭同时停止X射线。

　　高分辨率： 入射和发散狭缝可选，为您提供所需的分辨率。

　　高 精 度： 实时角度校正功能，大幅提高角度精度、强度等基本性能，得到高精度测试数据。

　　高信噪比： 可以选配单色器，用于扣除荧光X射线背底，提高信噪比进行高质量数据测试。

　　丰富附件： 一维高速探测器、6位样品自动转换器、旋转样品台、气密样品台等

　　应　　用： 石棉、游离氧化钙等定量分析 工业原材料品质管理、大学、科研等

2.  Ultima IV

快速

Ultima IV 是多功能X射线衍射仪的*代表。平行光与聚焦光灵活转换，Ultima IV X射线衍射仪可快速执行多种不同测量。

灵活

The Ultima IV 是当今市场采用全自动校准的X射线衍射仪。CBO技术与自动校准相结合，使Ultima IV X射线衍射仪成为多功能应用灵活系统。

在Ultima IV XRD 系统中, CBO 技术缩短了切换测角仪时花费的时间，使日常用户可以运行两组试验而无需重新设置系统，可以减少经常切换造成的磨损和光路损坏。

CBO 与自动校准相结合后功能如下：

Ultima IV: 快速 • 灵活 • 实用

3.  Smatlab

智能X射线衍射仪SmartLab系列，是性能的多功能的X射线衍射仪，它采用了理学CBO交叉光学系统、自动识别所有光学组件、样品台、智能的测量分析软件SmartLab Guidance，一台仪器可以智能进行普通粉末样品、液体样品、纳米材料、药品、半导体、薄膜样品测试。The SmartLab 高分辨衍射系统是全自动模块化XRD系统的代表。该系统配备了高分辨θ/θ闭环测角仪驱动系统，选配的in-plane 扫描臂、9kW转靶发生器，全自动光学系统实现的测量。

　　•主要特点

　　智能X射线衍射仪SmartLab系列，可以广泛应用于各种材料结构分析的各个领域。

　　可以分析的材料包括：金属材料、无机材料、复合材料、有机材料、纳米材料、超导材料

　　可以分析的材料状态包括：粉末样品、块状样品、薄膜样品、微区微量样品

　　主要的应用有：

　　1. 粉末样品的物相定性与定量分析

　　2. 计算结晶化度、晶粒大小

　　3. 确定晶系、晶粒大小与畸变

　　4. Rietveld定量分析

　　5. 薄膜样品分析，包括薄膜物相、多层膜厚度、表面粗糙度，电荷密度

　　6. In-Plane装置可以同时测量样品垂直方向的结构及样品深度方向的结构

　　7. 小角散射与纳米材料粒径分布

　　8. 微区样品的分析

　　技术参数

　　• 1、X射线发生器功率为3KW、新型9KW转靶

　　• 2、测角仪为水平测角仪

　　• 3、测角仪进为1/10000度，精度测角仪(双光学编码、直接轴上定位)

　　• 4、测角仪配程序式可变狭缝

　　• 5、自动识别所有光学组件、样品台

　　• 6、CBO交叉光路，提供聚焦光路及高强度高分辨平行光路(带Mirror)(

　　• 7、小角散射测试组件(SAXS / Ultra SAXS)

　　• 8、多用途薄膜测试组件

　　• 9、微区测试组件、CBO-F微区光学组件

　　• 10、In-Plane测试组件

　　• 11、入射端Ka1光学组件

　　• 12、高速探测器D/teX-Ultra(能量分辨率20%以下)

　　• 13、二维面探PILATUS 100K/R(用于同步辐射环的探测器，可以接收直射X射线)

　　• 14、智能的测量分析软件SmartLab Guidance

日本理学Rigku XRD