XTU-BL X荧光光谱仪

XTU-BL X荧光光谱仪性能优势：

下照式设计：快速方便的定位各种形状的样品，满足一切测试所需。

无损变焦检测：拥有手动变焦功能，可对各种异形凹槽件进行无损检测，凹槽深度范围0-30mm。

微聚焦射线装置：可测试各微小的部件，小检测面积可达0.002mm²。

高效率的接收器：在检测0.01mm²以下的样品时，几秒钟也可达到稳定性。

EFP*算法软件：可检测单镀层，多镀层，多元合金，甚至对于同种元素在不同层的厚度检测也能分析，包括轻金属镀层，非金属镀层，达克罗，Nip镀层测试，包括Ni与P的比例也均可检测。

准直器和滤光片：多种准直器和滤光片电动切换，满足各种测试方式的应用。

新一代高压电源和X光管：性能稳定可靠，高达50W的功率实现更高的测试效率。

高效的散热系统：对流通风过滤式风冷，仪器即便全天候开启，都可保持恒温恒效。

防护装置：恒压恒流快门式光闸，拥有高压电源紧急自锁功能，带给您的防护。

XTU-BL X荧光光谱仪技术参数：

测量元素范围：CI(17)-U(92)

涂镀层分析范围：Li(3)-U(92)

分析软件：EFP，可同时分析23层镀层，24种元素，不同层有相同元素和有机物厚度也可分析

测试程式添加：1862条测试程式免费提供，也可编辑新程式

软件操作：人性化封闭软件，自动提示校正和步骤，避免操作错误

X射线装置：升压发射一体高分子聚合式W靶微聚焦加强型射线管