EDX4500H 国产X荧光光谱EDX4500H分析仪

产品优点

1.采样方式灵活，对于稀有和贵重金属的检测和分析可以节约取样带来的损耗。

2.测试速率高，可设定多通道瞬间多点采集，并通过计算器实时输出。

3.对于一些机械零件可以做到无损检测，而不破坏样品，便于进行无损检测。

4.分析速度较快，比较适用做炉前分析或现场分析，从而达到快速检测。

5.分析结果的准确性是建立在化学分析标样的基础上。

光谱分析仪的缺点

1.对于非金属和界于金属和非金属之间的元素很难做到准确检测。

2.不是原始方法，不能作为仲裁分析方法，检测结果不能做为*依据。

3.受各企业产品相对垄断的因素，购买和维护成本都比较高，性价比较低。

4.需要大量代表性样品进行化学分析建模，对于小批量样品检测显然不切实际。

5.模型需要不断更新，在仪器发生变化或者标准样品发生变化时，模型也要变化。

6.建模成本很高，测试成本也就比较大了，当然对于大量样品检测时，测试成本会下降。

7.易受光学系统参数等外部或内部因素影响，经常出现曲线非线性问题，对检测结果的准确度影响较大。

国产X荧光光谱EDX4500H分析仪技术参数

产品型号：EDX 4500H

产品名称：X荧光光谱分析仪

测量元素范围：从钠（Na）到铀（U）

元素含量分析范围： ppm—99.99%（不同元素，分析范围不同）

同时分析元素：一次性可测几十种元素

测量时间：30秒-200秒

探测器能量分辨率为：145±5eV

管压：5KV-50KV

管流：50μA-1000μA

测量对象状态：粉末、固体、液体

输入电压：AC 110V/220V

环境温度：15℃-30℃

环境湿度：35%-70%

样品腔体积：320mm×100mm

外形尺寸：660mm×510mm×350mm

重量：65Kg

国产X荧光光谱EDX4500H分析仪标准配置

高效超薄窗X光管

SDD硅漂移探测器

数字多道技术

光路增强系统

高信噪比电子线路单元

内置高清晰摄像头

自动切换型准直器和滤光片

自动稳谱装置

三重安全保护模式

可靠的整体钢架结构

90mm×70mm的状态显示液晶屏

真空泵

性能特点

高效超薄窗X光管，指标达到*水平

新的数字多道技术，让测试更快，计数率达到100000CPS，精度更高。在合金检测中效果更好

SDD硅漂移探测器，良好的能量线性、能量分辨率和能谱特性，较高的峰背比

低能X射线激发待测元素，对Si、P等轻元素激发效果好

智能抽真空系统，屏蔽空气的影响，大幅扩展测试的范围

自动稳谱装置保证了仪器工作的*性

高信噪比的电子线路单元

针对不同样品自动切换准直器和滤光片，免去手工操作带来的繁琐

解谱技术使谱峰分解，使被测元素的测试结果具有相等的分析精度

多参数线性回归方法，使元素间的吸收、增强效应得到明显的抑制

内置高清晰摄像头

液晶屏显示让仪器的重要参数（管压、管流、真空度）一目了然

应用领域

X荧光光谱分析仪合金检测、全元素分析、有害元素检测（RoHS、卤素）