波散型X射线荧光光谱仪XRF-1800

世界250μm微区分布成像分析功能（已取得）

nload="javascript:if(this.width>740)this.width=740" align="right" border="undefined">       XRF-1500/1700系列X射线荧光光谱仪是在世界上首先开发出微区分析/分布分析功能，并采用了4KW薄窗X射线管，扩大了X射线荧光分析的应用领域，作为具有革命性的仪器而得到了很高评价，业已销售200余台。
       扫描型X射线荧光光谱仪 XRF-1800型从仪器的硬件与软件在许多细节都进行了改进，使得仪器的可靠性与可操作性更进一步提高，增加了世界的250μm微区分布成像分析功能，从而达到更高水平的程度。作为高灵敏度和微区分析的，岛津公司非常自信地向用户奉献出的XRF-1800型。
•可分析不均匀样品的含量分布、强度分布。
•高次谱线的判定更加准确，提高了定性定量分析的准确度/可靠性。
•利用康普顿散射/瑞利散射的强度比计算出荧光X射线分析不能得到的氢（H）元素的信息。高分子薄膜分析中，利用康普顿散射线的理论强度作为高分子薄膜的信息。
•独自开发的特殊形状的滑动式视野限制光栏，利用r方向滑动与样品旋转控制的q转动，可以在30mm直径内的任意位置进行分析。
•在测定室导入样品的位置上，将样品容器按照与测定位置相同的方式放置，通过CCD摄取样品的图像，可使测定位置与图像相吻合。（申请中）
•配备平均寿命在5年以上的高可靠性Ｘ射线管。与传统的3kWＸ射线管相比，轻元素的分析灵敏度提高2倍以上。
•对应于液体、粉末、固体、金属、氧化物等不同形态的样品具有相应的分析条件，在这基础上可编制的分析条件。可根据不同材质判定、品种分类、品种判定、一致性检索这4种匹配功能进行判定、检索。