美国TSI 扫描电迁移率粒径谱仪

美国TSI 扫描电迁移率粒径谱仪：
广泛用于测量空气中的颗粒尺寸分布的标准。这一系统也经常用来使悬浮在液体中的颗粒的颗粒尺寸的测量精度。

美国国家标准与技术研究所（  NIST ）使用一个 TSI DMA 尺寸为 60 nm和 100 nm  的标准尺寸的参考材料。扫描电迁移率粒径谱仪是一个经确地粒径检测技术，没有假设颗粒的形状粒度分布而直接测量数浓度。该方法是独立的颗粒或流体的折射率，并具有高度的尺寸精度和测量重复性。  TSI 模型 3938  是粒径谱仪的第三代；可信的研究人员超过 30 年。

美国TSI 扫描电迁移率粒径谱仪特点和优点  

高分辨率数据：多达 167  个通道

广泛的尺寸范围：从 2.5 nm  到 1000 nm 

 ISO 15900:2009  兼容

快速测量：＜ 10  秒扫描

宽的浓度范围内， 107  particles/cm3

大的灵活性组件的设计

无需电脑的操作， 触摸屏控制

易于安装与不安装工具和自动发现部件

离散粒子测量：适用于多模样本

独立的颗粒和流体的光学性质

宽范围的系统的选择：水或丁醇计数器供选择；传统的或非放射性中和器的选择

应用  

纳米技术研究和材料的合成

大气研究和环境监测

燃烧和发动机排气的研究

室内空气质量的测量

核 /  冷凝的研究

吸入毒理学研究

内容包括  

静电分类器与您选择的 DMA  柱

可兼容六种 CPC 

气溶胶仪器 ®  软件经理

数据采集计算机必须单独购买。