•StaticDetectTM微量分析天平静电检测技术可以检测样品和/或容器上的静电荷，并提供警告
•LeveIGuideTM 水平向导，在天平未处水平时提供警告，并在触摸屏上显示完整的说明和红/绿色实时图形化水平泡
•proFACT专业级全自动校准技术，温度漂移和时间设置触发的自动内置砝码校正和线性校正，获得精确称量结果
•User Management用户管理功能，设置不同天平菜单的进入权限
•MinWeigh小称量值功能，提供符合质量法规的称量帮助
•TestManagerTM 测试管理内置固件中进行符合SOP的日常测试
•完全可拆卸、清洗的防风罩设计，实现快速清洁
•显示屏塑料保护罩，避免散落样品的腐蚀
•标配RS232通讯接口和一个可用于蓝牙、以太网、LocalCAN、RS232 和PS/2通讯接口选件插槽，便连接打印机、电脑等外围设备
•符合GxP规范的称量结果输出，获得完整的、可追溯的称量信息
微量分析天平
XPR2 U | XPR6UD5 | XPR2 | XPR10 | XS3DU | XPE26 | |
大秤量 {g} | 2.1 | 6.1 | 2.1 | 10.1 | 0.8/3.1 | 22 |
可读性{mg} | 0.0001 | 0.0005 | 0.001 | 0.001 | 0.001/0.01 | 0.001 |
重复性（sd）{mg} | 0.00015 | 0.0003 | 0.0005 | 0.0004 | 0.0008/0.006 | 0.0007 |
线性偏差 {mg} | 0.0001 | 0.003 | 0.003 | 0.003 | 0.01 | 0.002 |
典型稳定时间{s} | 10 | 8 | 8 | 8 | 6 | 3.5 |
称盘尺寸（WxD） {mm} | Ø16 | Ø27 | Ø27 | Ø27 | Ø27 | 40x40 |
DR=变量程 DU=双量程 Sd=标准偏差
15901824610 周经理