SC-X型万深SC-X型小麦品质分析和面粉麸星检测仪 参考

万深SC-X型小麦外观品质分析、面粉麸星检测仪

小麦品质自动4分类分析结果标记图

面粉麸星砂石分类检测结果标记图

1．万深SC-X型小麦品质分析和面粉麸星检测仪用途：快速测量小麦的粒数、千粒重、粒形、霉变率、赤霉率、黑胚率、破损率等，面粉的麸星、砂石的大小和含量。用于实验室快速检测获得批处理数据（包括小麦粒数、千粒重、籽粒形状、籽粒整齐度或饱满度、籽粒颜色、霉变率、赤霉率、黑胚率、破损率等；面粉的麸星、砂石的大小和含量）。小麦品质检测方法符合GB5504-85《粮食、油料检验小麦加工精度检验法》、GB/T 27628-2011《粮油检验 小麦粉粉色、麸星的测定》中的小麦粉麸星测定方法。

2．万深SC-X型小麦品质分析和面粉麸星检测仪仪器特点：仪器由光学成像系统、智能分析软件、220g量程1mg精度电子天平组成。系统具有的自学习能力，实现人性化的一键式智能分析，并可交互修正个别的分类错误点，以达到*正确分类结果。该分析系统能大批量处理，自动分析300个以上小麦和面粉样品的图像。由专业软件分析成像后的彩色图像，准确、快速地测定小麦的粒数、千粒重、籽粒形状、籽粒整齐度、籽粒饱满度（即：可按面积自动排序及输出）、籽粒颜色、霉变率、赤霉率、黑胚率、破损率等指标，以及面粉中的麸星粒数和大小、麸星面积比和对应的砂石占比。软件能让用户实时看到真实样品分析过程情况，并交互修正；当面粉指标偏离设定参数时，可报警显示；用户可随意查询检测结果，并打印。所有测试图像分析结果和数据可在电脑上显示并保存。样品数据准确可靠，结果稳定、重复性高。

3．主要性能指标*：

l  zui大分析面积：小麦为A4纸幅面；面粉为35mm×35mm

l  测量时间：小麦≤2分钟/样品；面粉≤1分钟/样品视野。

l  小麦千粒重测量误差≤±0.5%

l  外观品质两次扫描单面分析的重复性误差≤±2.0%

l  可接入条码枪来自动刷入样品编号，分析结果可对应样品编号输出至EXCEL表，分析图像标记结果可保存。

4．仪器规格配置：

　　带RS232线电子天平（220g量程、1mg精度）1台，LED光源、zui高光学分辩率4800×9600dpi彩色扫描仪1台，单筒体视显微镜+300万像素相机1套、微型手动移动平台1套，小麦外观品质分析、面粉麸星检测软件光盘1张（含电子版操作手册）、软件锁1只，籽粒收纳盘1个，紧粉用面粉成像小盘1付。（电脑需另配）

　　 仪器总尺寸、总重量：宽×深×高约50cm×40cm×12cm，～13kg。

5．环境条件：

       温度10~30℃，相对湿度≤85%，防止强光照射。仪器应放在平稳工作台上，周围无强烈的机械振动和电磁干扰；电源要求220V±10%，50Hz。

选配电脑*: 台式机电脑（i5以上CPU /8G内存/含支持CUDA的GPU（如：GTX1060、GTX1070）/128G以上硬盘/DVD刻录/ 23”彩显，5个以上USB接口，64位的Windows 7完整专业版或完整旗舰版），该电脑价约0.7-1万