法兰一体式电磁流量计
半导体生产流程由晶圆制造,晶圆测试,芯片封装和封装后测试组成,晶圆制造和芯片封装讨论较多,而测试环节的相关知识经常被边缘化,下面集中介绍集成电路芯片测试的相关内容,主要集中在WAT,CP和FT三个环节。集成电路设计、制造、封装流程示意图WAT(WaferAcceptanceTest)测试,也叫PCM(ProcessControlMonitoring),对Wafer划片槽(ScribeLine)测试键(TestKey)的测试,通过电性参数来监控各步工艺是否正常和稳定,CMOS的电容,电阻,Contact,metalLine等,一般在wafer完成制程前,是Wafer从Fab厂出货到封测厂的依据,测试方法是用ProbeCard扎在TestKey的metalPad上,ProbeCard另一端接在WAT测试机台上,由WATRecipe自动控制测试位置和内容,测完某条TestKey后,ProbeCard会自动移到下一条TestKey,直到整片Wafer测试完成。
分体式电磁流量计主要用于测量封闭管道中的导电液体和浆液中的体积流量。包括酸、碱、盐等强腐蚀性的液体。该产品广泛应用于石油、化工、冶金、纺织、食品、制药、造纸等行业以及环保、市政管理,水利建设等领域。
法兰一体式电磁流量计
不过正规测量泄漏电流施加的是交流电压,因而,在泄漏电流的成分中包含了容性分量的电流。在进行耐压测试时,为了保护试验设备和按规定的技术指标测试,也需要确定一个在不破坏被测设备(绝缘材料)的电场强度下允许流经被测设备(绝缘材料)电流值,这个电流通常也称为泄漏电流,但这个要领只是在上述特定场使下使用。请注意区别。泄漏电流实际上就是电气线路或设备在没有故障和施加电压的作用下,流经绝缘部分的电流。它是衡量电器绝缘性好坏的重要标志之一,是产品安全性能的主要指标。
电磁流量计按转换器与传感器组装方式分类,有分体式和一体型。
分体型电磁流量计是电磁流量计普遍应用的形式,如下图所展示的,传感器接入管道,转换器装在仪表室或人们易于接近的传感器附近,相距数十到数百米。
为防止外界噪声侵入,信号电缆通常采用双芯屏蔽线。测量电导率较低液体而相聚超过30m时,为防止电缆部分电容造成信号衰减,内层屏蔽也有要求接上与芯线同电位低阻抗源的屏蔽驱动。分体型电磁流量计的转换器可远离现场恶劣环境,电子部件检查、调整和参数设定就比较方便。
单芯片集成的趋势使得手持设备变的小巧而可靠,并具备了多种功能。现在的视频驱动器的尺寸已经小于1mm3,但仍然能提供高质量、无明显干扰的视频输出信号。除了半导体制造技术的进步之外,小尺寸的芯片和表面贴装芯片的流行也意味着更多的高科技元件能做成的体积。表面贴装芯片比过孔式模型有更多的优势,比如能用取放机器进行简单的自动组装,在节省空间的双面电路板设计方面提供更多的灵活性。采用较少的元件是另一个节省空间和能量的趋势,它能使便携设备在变小的同时延长了电池寿命。
分体式电磁流量计测量原理是基于法拉第电磁感应定律,分体式电磁流量计由传感器和转换器组成,传感器安装在测量管道上,转换器被安装在离传感器30米内或100米内的场合,两者间由屏蔽电缆连接。
分体式电磁流量计传感器主要组成部分是:测量管、电极、励磁线圈、铁芯与磁轭壳体。主要用于测量封闭管道中的导电液体和浆液中的体积流量。如水、污水、泥浆、纸浆、各种酸、碱、盐溶液、食品浆液等,广泛应用于石油、化工、冶金、纺织、食品、制药、造纸等行业以及环保、市政管理,水利建设等领域测量高温、高湿,不便观察的环境。