X荧光光谱仪
分析原理:能量色散 X 射线荧光分析法
分析元素:Na ~ U 任意元素
检出下限(Cd/Pd):Cd/Pb/Hg/Br ≦ 2 ppm, Pb ≦5 ppm
样品形状:任意大小,任意不规则形状
样品类型:塑胶 / 金属 / 薄膜 / 粉末 / 液体
X荧光光谱仪
X 射线管:
靶 材:Mo
管 电 压:5 ~50 kV
管 电 流:*大 1 ~ 1000 μA
照射直径:2 、 5 、 8mm 自动转换
探 测 器:Si(PIN) 半导体高分辨率探测器
滤 光 片:八种新型滤光片自动选择
样品定位:微动载物平台(选配)
样品观察:30 倍彩色 CCD 摄像机
微区分析:X光聚焦微区分析系统(选配)
软 件:定量分析:α系数法 WINDOWS XP
数据处理:
主 机:PC机
内 存:256 MB 以上
硬 盘:40 GB 以上
OS:Windows XP
工作环境:温度:10 ~ 35 ℃,湿度:30 ~70%R H
電 源:AC 220 V ± 10 % 、50/60 Hz
功 率:1.1kW
重 量:40Kg
外形尺寸:550(W) × 450(D) × 450(H)mm