仪器照片 | 
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仪器名称 | X射线荧光光谱仪 |
仪器型号 | Panalytical Axios |
生产厂家 | 荷兰 |
技术参数 | 分析范围：O(8)-U(92)；含量范围：PPM- SST-mAX无衰减X光管及固态高压发生器功率：4KW，60KW，160mA DOPS直接光学定位测角仪精确率：0.0001o 晶体：LiF200；PX-1；PE002，Ge111；LiF220；扫描方式：顺序扫描 探测器：流气式：3000Kcps；闪烁式：1500 Kcps |
应用范围 | 用于粉末，块状，粉末压片，熔片，金属非金属样品，空气滤膜等样品元素成分的定性定量分析以及无标样半定量分析，无损分析。 |
主要功能 | X射线荧光是原子内产生变化所致的现象。内层电子在足够能量的X射线照射下脱离原子的束缚，释放出来，电子的逐放会导致该电子可曾出现相应当电子空位。这时处于高能量电子壳层的电子会跃迁到该低能量电子壳层来填补相应当电子空位。由于不同电子壳层之间存在能量差距，这些能量上的差以二次X射线的形式释放出来，不同元素所释放出来的二次X射线具有特定的能量特性—特征波长(定性分析基础)；依据谱线强度与元素含量的比例关系进行定量分析。 |
半定量分析 |  |
样品要求 | 寄送样品须干燥处理；固体：尺寸要求(mm) 长×宽：10×10 mm～200×200 mm 高：<100 mm；粉末：样品均匀、粒度>200目，送样质量大于1 g。 |
