XTU-A X荧光光谱仪性能优势：
下照式设计：快速方便的定位各种形状的样品，满足一切测试所需。
无损变焦检测：拥有手动变焦功能，可对各种异形凹槽件进行无损检测，凹槽深度范围0-30mm。
微聚焦射线装置：可测试各微小的部件，小检测面积可达0.04mm²。
高效率的接收器：在检测0.01mm²以下的样品时，几秒钟也可达到稳定性。
XTU-A X荧光光谱仪技术参数：
测量元素范围：CI(17)-U(92)
涂镀层分析范围：Li(3)-U(92)
分析软件：EFP，可同时分析23层镀层，24种元素，不同层有相同元素和有机物厚度也可分析
测试程式添加：1862条测试程式免费提供，也可编辑新程式
软件操作：人性化封闭软件，自动提示校正和步骤，避免操作错误
X射线装置：升压发射一体高分子聚合式W靶微聚焦射线管
放大倍数：光学38-46X，数字放大40-200倍
样品台尺寸：500mm*360mm
样品可放置区域：480mm*320mm*205mm（C型开槽设计，特殊测试时可以超出区域放置样品）
外部尺寸：540mm*430mm*475mm
电源：交流220V 50HZ
功耗：大120W（不包括计算机）
冷却系统：对流通道过滤式风冷
保养升级模块：软硬件模块化
环境要求：使用时温度：10℃-40℃ 存储和运输时温度：0℃-50℃ 空气相对湿度：≤80%
重量：约45KG
随机标准片：十二元素片、Ni/Fe、Au/Ni/Cu
其他附件：电脑一套、喷墨打印机、附件箱