UV-A型365nm和420纳米双探头紫外辐照计采用SMT贴片技术，选用低功耗数字芯片，仪器外壳为流线型设计，探测器经过严格的光谱及角度特性校正，性能稳定，适用性强。适用于光化学、高分子材料老化、紫外光源、以及大规模集成电路光刻等领域的紫外辐照度测量工作。
UV-A型365nm和420纳米双探头紫外辐照计的特点：
光谱及角度特性经严格校正
数字液晶显示，带背光
手动/自动量程切换
数字输出接口（USB,冗余供电）
低电量提醒
自动延时关机
有数字保持
轻触按键操作，蜂鸣提示
的规格参数：
项目 | 参数 |
波长范围λ1，峰值波长λp | （320～400）nm，λP＝365nm |
波长范围λ2，峰值波长λp | （375～475）nm，λP＝420nm |
辐照度测量范围 | (0.1～199.9×103) μW/cm2 |
紫外带外区杂光 | 0.02% |
相对示值误差 | ±8％（相对于NIM标准） |
角度响应特性 | ±5% （α≤10°） |
线性误差 | ±1% |
换档误差 | ±1% |
短期不稳定性 | ±1%（开机30min后） |
零值误差 | 满量程的±1% |
响应时间 | <1秒 |
使用环境 | 温度(0~40)℃；湿度＜85％RH |
尺寸和重量 | 160mm×78mm×43mm；0.2kg |
电源 | 6F22型9V积层电池（非充电电池） |
整机功耗 | ＜0.1VA |
上海耀壮检测仪器设备有限公司是一家专业从事检测仪器设备销售和技术服务的高科技公司，和美国Spectronics（Spectroline）公司、磁通Magnaflux、UVP、LAND、福禄克FLUKE、路阳LUYOR、派克PARKER、奥林巴斯OLYMPUS（原美国泛美Panametrics-NDT）、DAKOTA ULTRASONICS、蒙娜多Monarch、NK公司Kestrel风速气象仪、瑞典兰宝Labino公司、德国MR、ElektroPhysik（EPK）、GE/KK、尼克斯Qnix、Fischer、马尔MAHR、德图Testo、罗威邦Lovibond公司、韩国京都KYUNGDO、NAWOO、日本图技GRAPHTEC、日置HIOKI、共立/克列茨(KYORITSU)、加野KANOMAX、三丰Mitutoyo、力新宝SHIMPO、北京时代集团TIME、中国台湾泰仕TES电子、固纬电子GWINSTEK、中国台湾一诺fff-motive及意大利哈纳HANNA公司*合作。凭借在无损检测和电子电工领域的专业水平和成熟的技术，在检测仪器设备领域迅速崛起。依靠科技求发展，不断为用户提供满意的高科技产品，是我们始终不变的追求。在机械设备制造、铁路、冶金、化工、制药、科研及通讯设备等众多领域，以产品质量和*的技术服务受到了用户的*好评！