技术特点•性能优异的光源，业界的外部条件要求，电压允许波动±10%，接地电阻≤30Ω
•世界波长色散荧光250µm微区分布分析，实现了异性样品和微量样品的分析
•的高级次谱线解析功能，可以进行准确的定性-定量分析
•新型SFP2011“无标样”软件，快速实现未知样品的定性-半定量分析
•配备新型薄膜膜厚和成分分析的背景基本参数法（BJ-FP）
•2015新型“定量-FP”法，实现了铁基、镍基、钴基、钛基、铜基等金属的全元素准确分析
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XRF-1800型 扫描型X射线荧光光谱仪
详细信息 技术特点•性能优异的光源，业界的外部条件要求，电压允许波动±10%，接地电阻≤30Ω •世界波长色散荧光250µm微区分布分析，实现了异性样品和微量样品的分析 •的高级次谱线解析功能，可以进行准确的定性-定量分析 •新型SFP2011“无标样”软件，快速实现未知样品的定性-半定量分析 •配备新型薄膜膜厚和成分分析的背景基本参数法（BJ-FP） •2015新型“定量-FP”法，实现了铁基、镍基、钴基、钛基、铜基等金属的全元素准确分析 |
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