EDX-1800x荧光光谱仪，能量色散X射线荧光光谱仪应用于RoHS & WEEE指令分析、各种金属膜厚度测量、工业镀层厚度测量、卤素指令Cl元素分析、矿石、原材料成份分析等、磁性磁性介质和半导体以及各种合金、贵金属成份分析.
x荧光光谱仪主要特点
●分析元素范围 S-U
●分析元素的浓度范围 2ppm—
●整机稳定性连续8小时测RSD<0.25%
● ROHS/WEEE检测时间100-120秒
●美国进口电制冷Si（Pin）探测器
●电制冷Si（Pin）探测器 晶体面积15mm2分辨率<155eV
●全数字脉冲处理器技术
●优异的峰背比、极高的痕量分析灵敏度
● 50KV,50W自防护X-射线管
●复合滤光片智能切换技术
产品特征：
☆可分析精确分析氯元素和油漆中的铅
☆集成FP法，Alpha系数法、经验系数法
☆安全联动装置，软硬结合的辐射设计
☆操作简单、一键式操作
☆智能软件自动参数设定和选择滤光片
☆ X射线管超温保护
☆电子冷却，无需液氮和其它耗材
技术规格
| 仪器型号 | EDX-1800 | |
| 分析原理 | 能量色散X射线荧光分析法 | |
| 分析范围 | S（16）-U（92）任意元素 | |
| 检出下限 | Cl/Cd/Hg/Br/Cr/Pb≤2 ppm | |
| 样品形状 | 任意大小，任何不规则形状 | |
| 样品类型 | 塑胶/金属/薄膜/粉末/液体等 | |
| X射线管 | 靶材 | 钼（Mo）靶 |
| 管电压 | 5─50KV | |
| 管电流 | 1─1000ｕA | |
| 探测器 | 美国AMP-TEK Si-PIN探测器，高速脉冲高度分析系统 | |
| 高压发生器 | 美国SPELLMAN高压发生器 | |
| 滤光片 | 智能滤光片自动选择并自动转换 | |
| 样品观察 | 500万彩色摄像机 | |
| 分析软件 | *升级 | |
| 分析方法 | Alpha系数法（NBS-GSC法）、FP法、标准曲线法 | |
| 符合规范 | IEC62321、 SNT 2003.4-2006 、SNT 2003.5-2006 | |