光谱式测量为CCFL、LED背光LCD及OLED等平板显示技术提供了zui高精度的亮度、色度测量。现有的光谱式测量的主要不足是需要很长的测试时间。Photo Research的A-TAKT™系列光谱式辐射度计弥补了这一不足，实现了光谱式精度的实时产线测试。
A-TAKT™系列包含三款——高精度，快速测量，针对于低亮测试应用的V-7HS；快速，高光谱分辨率，适用于高亮发光源的测试的V-7WD；以及经济、便携，适用于QC/QA测试的V-6AQL。
所有三款机型都是基于CCD进行探测而不需通过目镜观测，同时可调取、使用测试对象的图像；多光谱带宽可选（2，5，8nm）；多孔径光阑可选（1.0°，1.25°，1.50°，0.50°）；物镜可从定焦50mm到变焦75mm的镜头中进行选择；用户还可以选择带有屏敝罩的特殊的亮度配件用于屏蔽外界杂散光的影响。自带的1/4-20 SAE螺纹孔使得仪器非常便于安装和固定。
针对不同测试对象的“EasyProfile”自分析技术确保得到zui快、zui的测试结果。
灵活的定制：
针对产线测试环境的不同（如工作距离、测试区域和系统控制接口等），A-TAKT™系列提供有不同配置，包括光阑、镜头的定制（满足更多的亮度测试动态范围以及不同工作距离、光斑尺寸的测试需求），易于开发的SDK包可根据不同用户的ATE系统进行定制等。
操作简便：
A-TAKT™系列操作简便，支持通过文本编程通讯协议或SDK进行控制，并与Windows Vista 32或64 bit（或更高版本）及OSX（10.7+）兼容。
通信功能：
A-TAKT™系列可很容易的实现与外界通讯，它配备有USB接口和RS232接口以及加固的附件可增加仪器在恶劣环境中的使用安全。
