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首页 > 供应产品 > CLJ-BII(J)全半导体激光尘埃粒子计数器 参考价:
CLJ-BII(J)全半导体激光尘埃粒子计数器 参考价:
浏览: 550
单价: 面议
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供货总量:
发货期限: 自买家付款之日起 天内发货
有效期至: 长期有效
最后更新: 2022-03-10 15:21
 
详细信息

该全半导体激光尘埃粒子计数器的技术指标满足国家计量总局颁布的JJG547-88检定规程的要求,整机功能采用微电脑控制处理,可直接打印检测结果。具有功能多、测量精度高、速度快、便于携带和操作简单等特点。仪器一次采样可同时测得多种粒径的尘埃粒子数,并能选择观察其中某一粒径粒子的数目及其变化情况,对于研究、检测和评价各种洁净环境都十分方便。

  该系列产品已被广泛应用于微电子、医院、制药、医疗器械、生化制品、食品卫生、精细化工、精密机械和航天等生产和科研部门,是制药企业及其监督管理部门贯彻GMP规范的*仪器。该系列仪器性能设计*、质量稳定可靠,深受用户欢迎。经国内贸易部有关部门的市场调查和*,先后获《质量信得过产品》、《消费者信得过产品》、《质量监督合格产品》等荣誉证书。

全半导体激光尘埃粒子计数器主要功能和技术参数:
 

型号CLJ-BⅡ(J)
采样流量2.83L/min
检测范围100级~30万级
自净时间≤10min
连续工作时间8h
打印功能内置打印机
工作环境温度10~35℃,相对湿度≤75%
电源220V±10%,50Hz±2Hz
粒径通道0.3,0.5,1,3,5,10(um)六通道
采样周期1min~10min(10档)
时钟有时钟
公英制转换有公英制转换
判断净化级别按95%置信度判断净化级别
电源及寿命全半导体激光>30000h
功耗35W
外形尺寸22.5X10X25(cm)
重量4Kg
询价单
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