美国TSI 扫描电迁移率粒径谱仪：
广泛用于测量空气中的颗粒尺寸分布的标准。这一系统也经常用来使悬浮在液体中的颗粒的颗粒尺寸的测量精度。
美国国家标准与技术研究所（ NIST ）使用一个 TSI DMA 尺寸为 60 nm和 100 nm 的标准尺寸的参考材料。扫描电迁移率粒径谱仪是一个经确地粒径检测技术，没有假设颗粒的形状粒度分布而直接测量数浓度。该方法是独立的颗粒或流体的折射率，并具有高度的尺寸精度和测量重复性。 TSI 模型 3938 是粒径谱仪的第三代；可信的研究人员超过 30 年。
美国TSI 扫描电迁移率粒径谱仪特点和优点
高分辨率数据：多达 167 个通道
广泛的尺寸范围：从 2.5 nm 到 1000 nm
ISO 15900:2009 兼容
快速测量：＜ 10 秒扫描
宽的浓度范围内， 107 particles/cm3
大的灵活性组件的设计
无需电脑的操作， 触摸屏控制
易于安装与不安装工具和自动发现部件
离散粒子测量：适用于多模样本
独立的颗粒和流体的光学性质
宽范围的系统的选择：水或丁醇计数器供选择；传统的或非放射性中和器的选择
应用
纳米技术研究和材料的合成
大气研究和环境监测
燃烧和发动机排气的研究
室内空气质量的测量
核 / 冷凝的研究
吸入毒理学研究
内容包括
静电分类器与您选择的 DMA 柱
可兼容六种 CPC
气溶胶仪器 ® 软件经理
数据采集计算机必须单独购买。