产品特点:
l集ROHS有害元素分析、金属元素分析、电镀层厚度分析、全元素分析于一体的测试软件
l电镀层可以是镀金、镀银、镀镍、镀锡、镀锌等镀层
l独特的MLSQ-FP分析软件可以内置无限多标样数据，*的提高了测试精度和测试范围
l采用多道脉冲分析器
l一次可同时分析样品中25个金属的含量极成分
l软件支持无标样分析，无标样条件下误差小于1%，可任意进行定性定量分析，使用灵活
l直观的分析谱图,元素分布一目了然
l物理测量，不改变样品性质分析样品不被破坏，被测样品可以是固体、粉末、液体等
l具有多种光谱拟合分析处理技术
1）Smooth(波峰光滑处理)
2）Pickup Removal(拾取峰去除)
3）Escape peak(逃逸峰处理)
4) Background Removed(背景去处)
5) Blank Subtraction(空白峰位去除)
6) Compton Peak(康普顿波峰处理)
7) Deconvolute(去卷积积分处理)
X荧光光谱仪EDX-1200 铜合金分析仪技术指标
l测量元素范围：11（Na）~ 92 (U)
l膜厚分析精度：0.05um
l元素含量分析范围：1ppm—99.99%
l多次测量重复性误差小于0.1%
l*工作稳定性误差小于0.1%
l检测时间：100-120秒
l样品腔尺寸：190×190×54mm
l工作环境温度：15-30℃
l工作环境湿度：≤65%
l工作电压：AC220V（建议使用者配UPS稳压电源）
标准配置
光谱仪主机 计算机 准直器 载物片 操作手册
X荧光光谱仪应用领域
RoHS、金属膜厚度、工业镀层厚度测量、冶炼、玩具、无卤化分析、电子电器、土壤、催化剂、矿石、原材料成份分析等