Grimm 1nm 粒径谱仪 SMPS+PSM
德国GRIMM公司推出全新一代纳米颗粒电迁移率粒径谱仪：SMPS+PSM，监测粒径：1.1nm-55nm。
新品优势：
融合德国GRIMM公司SMPS+C和芬兰AIRMODUS PSM技术
检测颗粒物粒径分布低至1.1nm
测量粒径拓展到纳米单位（least）——1nm及分子团簇
扫描、步进和单位颗粒计数模式可供选择
采样软件操作简单，自动高效
可外接传感器输入所需参数，如温湿度等
适合实时检测快速增长的气溶胶成核过程
颗粒物成核过程：
装置示意图：
粒度放大镜：
可使粒径小至1nm的颗粒凝结生长
使用二甘醇作为工作液
用户可以在1.3到4 nm之间选择仪器的截止值
入口流量为2.5 LPM，以降低扩散损失
产生粒径达90 nm的粒子