日本理学Rigaku x射线粉末衍射仪 ULTIMA IV为您提供所需的分辨率，一维高速探测器、6位样品自动转换器、旋转样品台、气密样品台等，实时角度校正功能，大幅提高角度精度、强度等基本性能，得到高精度测试数据，可以选配单色器，用于扣除荧光X射线背底，提高信噪比进行高质量数据测试。
在X射线开启状态下无法打开样品室操作窗。在测试中如果指令样品室解锁，则快门关闭同时停止X射线，应用于石棉、游离氧化钙等定量分析、工业原材料品质管理、大学、科研等等，入射和发散狭缝可选。
技术参数
1、多用途薄膜测试组件；
2、X射线衍射-差示扫描量热仪同时测量装置 XRD-DSC；
3、分析软件包括：XRD分析软件包、NANO-Solver软件包、GXRR软件包等；
4、X射线发生器功率为3KW；
5、测角仪为水平测角仪；
6、测角仪小步进为1/10000度；
7、In-Plane测试组件；
8、高速探测器D/teX-Ultra；
9、CBO交叉光路，提供聚焦光路及高强度高分辨平行光路（带Mirror）；
10、小角散射测试组件；
11、微区测试组件；
12、测角仪配程序式可变狭缝；
13、高反射效率的石墨单色器；
14、测角仪半径:185mm,285mm(选购),280mm(TTR)；
15、X射线防护罩:带故障保险机构的开闭式防护罩；
16、X射线发生器:3kW。
主要特点：
1、高速X-射线检测器，检测器的速度和强度大幅提高；
2、全新的软件设计理念，丰富的内容, 简明流畅；
3、光路系统自动调整校准：配备X-射线光路自动调整校准模式；
4、丰富的功能附件保障了仪器升级的可能；
5、水平测角仪：特别适合粉末类样品，尤其是易于产生取向效应的样品；
6、全自动狭缝调整装置；
7、独特的光学系统，可实现交叉光路和平行光路的自动程序互换。
日本理学Rigaku x射线粉末衍射仪 ULTIMA IV采用联锁装置，X射线衍射仪器的旗舰产品，聚焦法光学系统和平行光束法光学系统可 轻松切换，不需要重新设置,水平测角仪,操作方便,可自由 组合各种附件,适合多种样品的各种测试，可以进行材料的物相鉴定及定量分析以及研究材料原子尺度结构不可或缺、起决定性作用的设备，应力、织构、取向度和结晶度的测定；薄膜物相及物性分析等。
