EDX8000L考古检测X荧光光谱仪是EDX3600L型的升级产品，利用中国历史博物馆和上海硅酸盐研究所两大古陶瓷研究检测的部门提供的标准陶瓷片样品为仪器标定基准标样，一次性同时分析古陶瓷标本胎和釉中Na2O、MgO、Al2O3、CaO、Fe2O3、K2O、MnO、SiO2、TiO2、As、Cr、Cu、Co、Mn、Ni、Pb、Ti、V、Zn、Zr、Ba等化学成份含量，再对照中国古陶瓷数据库便可以达到断代断源的功效。同时，为了更好的利用X荧光分析仪器的无损测量特性，我公司特意根据行业需要制作超大型抽真空样品腔，以满足不同大小、器形的陶瓷样品的检测。
技术指标
产品名称：Skyray X荧光光谱仪
型号：EDX8000L
测量元素范围：从钠（Na）至铀（U）
元素含量分析范围：1ppm—99.99%
同时分析元素：同时可以分析30种以上元素
测量镀层：镀层厚度测量zui薄至0.01微米
测量对象状态：粉末、固体、液体
测量时间：30s—200s
管压：5KV—50KV
管流：50uA—1000uA
输入电压：AC 110V/220V
消耗功率：200W
环境温度: 15-26℃
相对湿度: ≤70%
标准配置
超薄窗大面积的*Fast SDD探测器
数字多道系统
可自动切换型准直器和滤光片
光路增强系统
内置高清晰摄像头
加强的金属元素感度分析器
智能全元素分析软件，与仪器硬件相得益彰，且操作简单。
面光源
放大电路
高低压电源
X光管
多变量非线性回归程序
相互独立的基体效应校正模型。
三重安全保护模式
外观尺寸： 800×710×1360 mm
样品腔尺寸：600×600×800mm
重量：280kg
应用领域
古陶瓷
古青铜器
古首饰
镀层测厚