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首页 > 供应产品 > LA-SLA-S*型植物图像分析仪系统 参考价: 面议
LA-SLA-S*型植物图像分析仪系统 参考价: 面议
浏览: 778
品牌: 杭州万深
单价: 面议
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有效期至: 长期有效
最后更新: 2022-03-02 18:41
 
详细信息

LA-S植物图像分析仪系统(*型版)

1、用途:LA-S*型植物图像分析仪系统用于植物年轮分析、根系分析、叶面积分析、病斑面积分析、虫损叶面积分析、叶片叶色分析、作物冠层分析、瓜果剖切面分析等

2、LA-S*型植物图像分析仪系统系统组成:成像装置、分析软件和电脑(电脑另配)

3、主要技术指标:

1)配光学分辨率4800×9600、A4加长的双光源彩色扫描仪。扫描年轮、叶面积、根系的反射稿为A4加长幅面(35.6 cm×21.6 cm),正片为30 cm×20 cm,zui小像素尺寸0.0053mm ×0.0026 mm;500万像素拍摄仪、10000mAH的12V移动电源的辅助背光源板,可野外辅助照明3小时。该野外成像背景板zui大测量面积A4幅面,具有自动图像校正与自动测量标定特性,可分析小至1mm2的叶片,分析误差<0.5%、测量中的分析时间<2秒。

2)植物年轮测量分析:可自动判读年轮数、各年轮平均宽度、早材及晚材宽度、各年轮切向角度和面积。可自动划分出年轮边界、早材边界、晚材边界,以及识别出很窄的树轮,可交互删除伪年轮、插入断年轮,可自动生成分析年表。具有【精细】分析选项,可自动分析出≤0.2mm宽度的年轮,分析获得的测量数据具备进一步做交叉定年、数据分析处理能力。可计算树盘总面积,分析木材的边材面积。

3)可一键化拍照测量野外活体叶面积。可全自动地大批量分析计算叶面积,并以叶片目标边缘标记来核对其正确性。可同时分析多张叶片面积,及可分析小至1mm2的叶片,叶面积分析误差<0.5%、分析测量时间<2秒。可分析多片叶叶面积、病斑面积、虫损叶面积(含分析2/3以上叶片被严重虫损的虫损叶面积)、测量植物的叶绿素相对含量或“绿色程度”,分析叶片叶色(具有按英国*园林协会RHS比色卡的比色特性)、可分析作物冠层。可交互进行植物相关的各种尺寸、角度测量。

4)植物根系测量分析:(1)根总长、根平均直径、根总面积、根总体积、根尖计数、分叉计数、交叠计数、根直径等级分布参数、根尖段长分布,(2)可不等间距地自定义分段直径,自动测量各直径段长度、投影面积、表面积、体积 等,及其分布参数;能进行根系的颜色分析,确定出根系存活数量,输出不同颜色根系的直径、长度、投影面积、表面积、体积。(3)能进行根系的拓扑分析,自动确定根的连接数、关系角等,还能单独地自动分析主根或任意一支侧根的长度和分叉数等,可单独显示标记根系的任意直径段相应各参数(分档数、档直径范围任意可改,可不等间距地自定义),并能进行根的分叉裁剪、合并、连接等修正,修正操作能回退,以快速获得*正确的结果。(4)能用盒维数法自动测根系分形维数。可分析根瘤菌体积在根系中的占比,以客观确定根瘤菌体贡献量。(5)大批量的全自动根系分析,对各分析结果图可编辑修正。还可用A4幅面的灯板来拍照分析根系。(6)能自动测量油菜果荚的果柄、果身、果喙参数。能自动测量各种粒的芒长。(7)能测各类针叶的叶面积、长度、粗细。(8)能做根系生物量分布的大批量自动化估算。

4)瓜果剖面各部位分析:可测西瓜的:纵径、横径、果形指数、总面积、皮厚、空心面积、瓤色分档分析、外周长;可测哈密瓜等甜瓜的:纵径、横径、果形指数、截面积、肉厚、外周长、瓤色分档分析、种腔(纵径、横径、面积);可测苹果、梨等的:纵径、横径、果形指数、总面积、核心面积、肉色分档分析、外周长;可测柑橘类水果的:纵径、横径、果形指数、总面积、皮厚、肉色分档分析、外周长。

5)各分析图像、分布图、结果数据可保存,分析结果输出至Excel表,可输出分析标记图。

 

 

选配电脑:品牌一体机(酷睿双核CPU /8G内存/2G显存/500G硬盘/ 23”彩显 /无线网卡)

应用万深分析仪器 发表的部分学术论文 已有近319篇:http://www.wseen。。com/News.aspx?id=6

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