二手X射线荧光光谱仪ROHS
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仪器实拍：
二手X射线荧光光谱仪ROHS
X射线荧光光谱仪具有重现性好，测量速度快，灵敏度高的特点。能分析F(9)～U(92)之间所有元素。样品可以是固体、粉末、熔融片，液体等，分析对象适用于炼钢、有色金属、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行业样品。无标半定量方法可以对各种形状样品定性分析，并能给出半定量结果，结果准确度对某些样品可以接近定量水平，分析时间短。薄膜分析软件FP-MULT1能作镀层分析，薄膜分析。测量样品的zui大尺寸要求为直径51mm，高40mm。
仪器类别0303040903 /仪器仪表 /成分分析仪器 /荧光光度计
指标信息1.发射源是Rh靶X光管，zui大电流125mA，电压60kV，zui大功率3kW 2.仪器在真空条件下工作，真空度<13pascals 3.5块分析晶体，可以分析元素周期表F～U之间所有元素，含量范围是ppm～* 4.分析软件是Philips公司（现为PANalytical）版软件，既可作半定量，也可定量分析。精密度：在计算率N=1483870时，RSD=0.08% 稳定性计算率Nmax=6134524,Nmin=6115920,N平均=6125704,相对误差为0.03%
附件信息循环水致冷单元，计算机 P10气体瓶空气压缩机
分析对象主要有各种磁性材料（NdFeB、SmCo合金、FeTbDy）、钛镍记忆合金、混合稀土分量、贵金属饰品和合金等，以及各种形态样品的无标半定量分析，对于均匀的颗粒度较小的粉末或合金，结果接近于定量分析的准确度。X荧光分析快速，某些样品当天就可以得到分析结果。适合课题研究和生产监控。
X射线荧光光谱仪分为波长色散、能量色散、非色散X荧光、全反射X荧光。
波长色散X射线荧光光谱采用晶体或人工拟晶体根据Bragg定律将不同能量的谱线分开，然后进行测量。波长色散X射线荧光光谱一般采用X射线管作激发源，可分为顺序式(或称单道式或扫描式)、同时式(或称多道式)谱仪、和顺序式与同时式相结合的谱仪三种类型。顺序式通过扫描方法逐个测量元素，因此测量速度通常比同时式慢，适用于科研及多用途的工作。同时式则适用于相对固定组成，对测量速度要求高和批量试样分析, 顺序式与同时式相结合的谱仪结合了两者的优点。
荧光光谱能量色散X射线荧光光谱采用脉冲高度分析器将不同能量的脉冲分开并测量。能量色散X射线荧光光谱仪可分为具有高分辨率的光谱仪，分辨率较低的便携式光谱仪，和介于两者之间的台式光谱仪。高分辨率光谱仪通常采用液氮冷却的半导体探测器，如Si(Li)和高纯锗探测器等。低分辨便携式光谱仪常常采用正比计数器或闪烁计数器为探测器，它们不需要液氮冷却。采用电致冷的半导体探测器，高分辨率谱仪已不用液氮冷却。同步辐射光激发X射线荧光光谱、质子激发X射线荧光光谱、放射性同位素激发X射线荧光光谱、全反射X射线荧光光谱、微区X射线荧光光谱等较多采用的是能量色散方式。非色散谱仪非色散谱仪不是采用将不同能量的谱线分辨开来，而是通过选择激发、选择滤波和选择探测等方法使测量分析线而排除其他能量谱线的干扰，因此一般只适用于测量一些简单和组成基本固定的样品。全反射荧光如果n1>n2，则介质1相对于介质2为光密介质，介质2相对于介质1为光疏介质。对于X射线，一般固体与空气相比都是光疏介质。所以，如果介质1是空气，那么α1>α2（图2.20右图），即折射线会偏向界面。如果α1足够小，并使α2=0，此时的掠射角α1称为临界角α临界。当α1<α临界时，界面就象镜子一样将入射线全部反射回介质1中，这就是全反射现象。X射线荧光光谱法有如下特点：分析的元素范围广，从4Be到92U均可测定；荧光X射线谱线简单，相互干扰少，样品不必分离，分析方法比较简便；分析浓度范围较宽,从常量到微量都可分析。重元素的检测限可达ppm量级，轻元素稍差；分析样品不被破坏，分析快速，准确，便于自动化。产品简介应对欧盟RoHS、ELV和中国《电子信息产品污染防治管理办法》。台式小型主机，配备全自动开关的大样品室。适应固体、液体、粉体、光盘、薄膜等各种类型的样品。扩展性优越，16/8样品交换、真空/He气氛、4种准直仪、使用CCD摄像头观察样品等，900型的检测器为电子制冷。详细介绍固体•粉末•液体样品都不需要前处理的非破坏性的简便分析。适用快速评价RoHS、 ELV法规限制的有害元素的新装置！灵敏度比以往机型提高2倍，使用更方便，提高了筛选分析的效率！1。配置新型滤光片，提高Pb、Cd等的灵敏度提高2倍。
2。配置高计数率电路，增加检测器的计数量。
3。增加时间缩短功能，由荧光X射线强度算出测定精度，自动判断所需zui少测定时间。
4。增加自动工作曲线选择功能，依据识别样品种类的不同而选择zui适宜的工作曲线。技术参数分析元素：11Na~92U(EDX-720/900HS)6C~92U(EDX-800HS)
2.样品型状：zui大300mmФ×150mmH
3.X射线滤镜：5种自动交换
4.软件：
定性分析－测定/解析软件。
定量分析－工作曲线法，共存元素校正、FP法、薄膜FP法、BG-FP法
1.分析元素：11Na~92U(EDX-720/900HS)，2.样品型状：zui大300mmФ×150mmH
3.X射线滤镜：5种自动交换
4.软件： 定性分析－测定/解析软件
定量分析－工作曲线法，共存元素校正、FP法、薄膜FP法、BG-FP法主要特点：
固体、粉末、液体样品都不需要前处理的非破坏性的简便分析。适用快速评价RoHS、 ELV法规限制以及电子信息产品污染防治管理办法中有害元素的新装置！灵敏度比以往机型提高2倍，使用更方便，提高了筛选分析的效率！迅速测定ppm级的有害金属！应对WEEE & RoHS、ELV等有害物质相关法规。
应对ASTM F963,EU_EN71美国和欧盟的玩具法规和指令，保证产品和用料的绿色环保。Ｘ射线荧光分析装置是使用Ｘ射线照射样品，对产生的荧光Ｘ射线的能量进行检测，测定构成样品的元素种类及含量的装置。可无损地进行固体、粉体、液体、磁盘、单晶片等的元素分析，广泛应用于各个领域。特别是zui近，以欧盟的报废电子电气设备指令（WEEE）、电子电气设备所含特定有害物质限制使用指令（RoHS）、报废汽车指令（ELV）以及玩具指令（ASTM F963，EU_EN71）等法规为代表的绿色采购及环境分析之中，要求更为微量、更为迅速的分析。
为满足这种需求，的EDX系列达到了更高的灵敏度与精度。测定原理 X射线荧光分析法测定方法 能量色散型测定对象 固体、液体、粉状测定范围 13Ai~92U样品室尺寸 zui大W370*D320*H155mm迅速测定ppm级的有害金属！
应对WEEE & RoHS、ELV等有害物质相关法规。
应对ASTM F963,EU_EN71美国和欧盟的玩具法规和指令，保证产品和用料的绿色环保。Ｘ射线荧光分析装置是使用Ｘ射线照射样品，对产生的荧光Ｘ射线的能量进行检测，测定构成样品的元素种类及含量的装置。可无损地进行固体、粉体、液体、磁盘、单晶片等的元素分析，广泛应用于各个领域。特别是zui近，以欧盟的报废电子电气设备指令（WEEE）、电子电气设备所含特定有害物质限制使用指令（RoHS）、报废汽车指令（ELV）以及玩具指令（ASTM F963，EU_EN71）等法规为代表的绿色采购及环境分析之中，要求更为微量、更为迅速的分析。
为满足这种需求，的EDX系列达到了更高的灵敏度与精度。
产品名称： | 荧光X射线元素分析仪 |
产品型号： | EDX-700HS |
厂商名称： | SHIMADZU(岛津) |
产品简述： | X-RAY FLUORESCENCE SPECTROMETER,rayny EDX-700HS型，AC100V,50Hz,15A,单相，分析元素范围：11Na－92U |
Micro Precision Test Equipment Inc. provides sales, rental and calibration service for SHIMADZU instruments including, EDX-700HS - X-Ray Flourescence X-Ray. Select from options for the EDX-700HS test equipment (Used,Refurbished, New). We can deliver it at your location or you can order from one of our many regional offices. Call 530-268-1860 for current pricing and availability. X射线荧光的产生原理X射线管发出X射线照射样品，样品中所含的原子则向外发射原子特有的X射线。这种X射线被称为荧光X射线，各元素具有特定的波长（能量）。因此，通过检测X射线的波长就能够进行定性分析。另外，荧光X射线的强度与浓度具有函数关系，检测每个元素X射线特征波长的X射线量就能进行定量分析。 满足所有领域不同的应用■ 电子·电气 ·RoHS指令、无卤素等筛选分析·半导体、存储装置、液晶、太阳能电池等各种薄膜分析 ■ 汽车·机械 · 应对ELV指令的筛选分析· 各种机械零部件结构分析及镀层厚度、化学合成外膜附着量的检测 ■ 钢铁·非金属· 原材料、合金、焊锡、贵金属的主要成分、残余成分的分析· 炉渣的组成分析 ■ 矿业· 选矿工艺的成色鉴别分析■ 窑业· 陶瓷、水泥、玻璃、砖、粘土的分析 ■ 石油·石油化学· 油中硫元素的分析· 润滑油中各种添加元素及混入元素的分析 ■ 化学工业·无机·有机原料和产品分析·催化剂、颜料、涂料、橡胶、塑胶的分析 ■ 环境· 土壤、排水、焚烧灰、过滤、PM2.5等成分分析 ■ 医药· 合成时的残留催化剂分析· 原药中不纯物分析、异物分析 ■ 农业·食品· 土壤、肥料、植物的分析· 食品的原料分析、添加元素管理、混入异物的分析■ 其它· 考古学样品及宝石成分分析玩具·日用品中有害重金属元素测定等一、岛津EDX-700hs射线荧光光谱仪主机部分:X射线发生器单元
X射线管
类型 Rh靶
冷却方法 空冷（附风扇）
2X射线电源单元
电压 5-50kV，每步1Kv（测定重金属(Cd,Pb,Hg,Br,Cr等)时，可以用50ｋV。但测定轻元素时，15kV是***有效的。另在工作曲线法中，随时可设定***佳电压。） 电流 1-1000μA，每步1μA
稳定度 ±0.01%（外电压波动±10%）
保护电路 过电压, 过电流, 过功率,
X射线连锁保护
（特点说明：电压、电流可以由计算机控制自动调节，满足不同元素的高精度分析，同时满足RoHS，ELV指令扩展的要求）
3、一次X射线滤波片 5种自动交换
（特点说明：不同元素应该采用不同的滤光片进行分析，这样才能有效降低背景，得到高准确度的测量数据。EDX-720进行元素分析时可以自动判断元素和更换相应的滤光片，无须手动更换）
二、岛津EDX-700hs射线荧光光谱仪检测器:
1、检测器
类型 Si（Li）检测器
液氮 只有在分析时添加
液氮消耗 少于1升/天
检测面积 10mm2
分析元素 Na-U
分辨率 ：小于150电子伏特
（特点说明：采用液氮制冷方式的检测器具有高分辨率，可以避免元素谱线之间的干扰，从而保证高准确度的分析。在性能、实绩、稳定性上，Si(Li)半导体是性的实绩（岛津检测器是自己生产，在万一发生故障也迅速对应）。 掘场按振动检测器的性能下降。 精工较差的Si-PIN半导体分辨率为220eV、在分析树脂中的Cd、Pb时，容易受到Br和Sb等共存元素的干扰、并有时不能检出，还有因为是低强度，在测试金属中有害元素的感度也差。）
2、计数单元
放大器
拟合时间 10μ秒
增益变化 高/低
多道分析器（MCA）
变频型 顺序比较ADC
道数 2048道
***大计数率 232-1/道
三、岛津EDX-700 hs射线荧光光谱仪样品室与测定室单元
1、样品室
盖子 自动开启/关闭（带安全系统）
每次测定时盖子自动上升与下降。
***大样品尺寸 300mm 直径 x 150mm高
（特点说明：样品室自动开启，样品盖子的结构设计有效避免X光的泄露，满足日本及中国X射线的泄露控制标准。超大型的样品室可以容纳大型的部件直接放入测试，无须切割）
2、测定室
X射线照射面积 下照射
光栏直径 1、3、5、10mm可选
（特点说明：不同的分析面积采用不同尺寸的光栏，可以保证各种大小样品的高精度测试。）
测定室开孔 13mm
3、测定气氛：大气
4、CCD观察定位系统
配备CCD数码观察系统，可以准确定位分析区域。
