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首页 > 供应产品 > TASLimage固体径迹蚀刻测量系统 参考价: 面议
TASLimage固体径迹蚀刻测量系统 参考价: 面议
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有效期至: 长期有效
最后更新: 2022-03-11 09:50
 
详细信息

TASLimage固体径迹蚀刻测量系统简介:
TASLimage是基于核径迹分析技术发展的高性能全自动图像测量及分析系统,用于测量及分析各类塑料径迹探测器,例如 TASTRAK(TASL 公司生产)、CR39、PN3。
TASLimage系统的显微镜模块采用了高质量 Nikon 光学器件和超快 3D 机动控制系统,保证了系统的高测量效率、高精度及低本底等优异性能。
TASLimage适用于中子测量、氡浓度监测、聚变研究、α 粒子放射自显影、铀矿勘探、宇宙射线以及放射领域教学。
TASTRAK核径迹探测器
TASLimage固体径迹蚀刻测量系统特点:
全自动聚焦,全自动扫描点码和蚀刻径迹;
全自动测读批量探测器;
快速测读,测读时间为 30~60 秒(与参数设置相关);
自动修正探测器响应衰退,保证探测器可用于 12 个月的长期监测;
高度精密的图像分析技术,可区分径迹与本底特征;
全自动本底评估(对每个探测器);
扫描数据自动转换为中子剂量 / 氡浓度;
数据可导出 excel 文件。

TASLimage软件界面
TASLimage软件界面

TASTRAK核径迹探测器
TASTRAK核径迹探测器

 

TASLimage径迹蚀刻测量系统技术参数:

探测器类型PADC(聚丙烯二甘醇碳酸酯)
兼容品牌TASTRAK,CR39,PN3 等,不限尺寸
TASTRAK 规格常规:0.5mm,0.75mm,1.0mm,1.5mm,
可定制:0.1~0.5mm,> 1.5mm
本底径迹< 20tracks/cm2
蚀刻数量150 个或 294 个,不锈钢蚀刻架
蚀刻条件 (TASTRAK)氡:98℃ , 约 1 小时;或 75℃ , 约 6 小时;
中子: 85℃ , 约 3 小时
识别径迹密度≥ 140tracks/mm2
探测限氡:5Bq/m3 ~15MBq/m3
中子:下限< 0.25mSv
线性中子:优于 5%, 不窄于 0.1mSv - 600 mSv;
氡: 3%-6%(200-5000 Bq/m3 )

 

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